Подати попередню заявку на дослідження

ПОЛОЖЕННЯ

про Центр колективного користування приладами НАНУ при Інституті фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАНУ "Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем"

1. Центр колективного користування приладами (ЦККП) "Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем" НАН України при Інституті фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАНУ є надбанням НАНУ і створюється на виконання Постанови Президії НАНУ від 12.12.2003 р № 302 та розпоряджень Президії НАНУ від 13.02.2004 р. № 99 та 28.04.2004 р. № 322.

2. ЦККП «Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем» включає три підрозділи: «Високороздільна рентгенівська дифрактометрія», "Комплекс скануючої зондової мікроскопії" та "Вимірювальний комплекс для експресного контролю напівпровідникових матеріалів і нанорозмірних приладів"

2.  Головним призначенням ЦККП "Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем" при Інституті фізики напівпровідників НАН України є
- створення унікальної в Україні методичної бази,
- проведення науково-дослідних робіт на світовому рівні з використанням
   * високороздільної рентгенівської дифрактометрії для отримання інформації про структурну досконалість і деформаційний стан одно- і багатошарових епітаксійних структур при поєднанні широкого кола напівпровідникових матеріалів,
   * скануючої зондової мікроскопії з широкими можливостями одержання інформації про фізичні властивості поверхонь різного типу (топографія, механічні, електрофізичні, магнітні тощо), їх керованої модифікації (нанолітографія), 
- експресне дослідження основних електрофізичних параметрів напівпровідникових матеріалів та приладів за допомогою методів вольт-амперних та вольт-фарадних характеристик, об'єднаних у аналітично-вимірювальний комплекс.
ЦККП працює на розв'язання завдань науково-дослідної тематики ІФН НАНУ, установ НАН України та надає відповідні послуги іншим організаціям різних відомств при проведенні робіт з приоритетних фундаментальних досліджень і прикладних розробок.

3. Основними науковими напрямками ЦККП "Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем" визначені наступні:
- напівпровідникове матеріалознавство;
- фізика низькорозмірних структур;
- оптоелектроніка і мікро- та наноелектроніка;
- технології і матеріали сенсорної та інфрачервоної техніки.

4. Центр створюється на основі наявного обладнання в ІФН НАН України та обладнання, централізовано закупленого НАНУ і переданого на безоплатній основі на баланс ІФН НАНУ.

5. Для успішного функціонування ЦККП "Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем" ІФН НАН України організовує кваліфіко­ваний персонал по обслуговуванню центру та забезпечує необхідну інфраструктуру (надає приміщення, комунікації, охорону тощо).

6. Керівником ЦККП є заступник директора ІФН НАН України. ЦККП складається із трьох підрозділів, безпосереднє керівництво якими здійснюють відповідальні особи.

7. ЦККП не є окремою структурною одиницею ІФН НАН України, його підрозділи входять до відповідних наукових відділів. Підрозділ ЦККП «Високороздільна рентгенівська дифрактометрія» входить до складу наукового відділу «Дифракційних досліджень структури напівпровідників» ІФН НАН України. Підрозділ ЦККП «Комплекс скануючої зондової мікроскопії» входить до складу наукового відділу «Електронно­зондових методів дослідження напівпровідникових матеріалів та систем» ІФН НАН України. Підрозділ ЦККП "Вимірювальний комплекс для експресного контролю напівпровідникових матеріалів і нанорозмірних приладів" входить до складу відділу "Фізико-технічних проблем іонно-легованих напівпровідників" ІФН НАН України.

8. При ЦККП діє науково-технічна рада. Відбір найбільш актуальних пропозицій для їх реалізації можливостями ЦККП здійснюється науково-технічною радою ЦККП. При наданні послуг організаціям НАН України та інших відомств керуватись вимогами, визначеними в Розпорядженні Президії НАНУ № 322 від 28.04.2004.

9. Відповідальність за успішне функціонування ЦККП "Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем"  покласти на керівника центру.

10. Керівник ЦККП, штат ЦККП та умови фінансування визначаються окремим наказом директора ІФН НАНУ.

Завантажити положення про створення ЦППК (pdf,  84.4 KB)

Подати попередню заявку на дослідження